薄膜磁性测试系统

特点:

1.采用进口数字锁相放大器、高斯计采集磁矩和磁场数据，在国内率先采用振动头交流恒流驱动技术，大大提高了仪器测量精度和稳定性；

2.软件功能全面，放置好样品后全部测量及控制参数（如锁相放大器的时间常数、相移、灵敏度，扫描磁场的幅值与周期以及数据采样间隔等）均由微机控制，自动完成测量；

3.可实时显示采集到的数据与曲线，如：物质的磁滞回线、磁化曲线、退磁曲线、热磁曲线等。测量结果可以保存为数据文件，也可保存和打印微机屏幕显示结果界面；

4.物质的各种磁特性参数诸如矫顽力、磁能积较大值、剩磁和磁化率等均可直接给出；

5.可原位测量磁性材料从液氮温区到500℃温区的磁性能随温度的变化曲线（M-T）；

6.可测量磁性薄膜材料的磁电阻（AMR、GMR）曲线（R-H）及霍尔效应曲线（VH-H）。

应用:

1.应用材料  

测量样品可为粉末、颗粒、薄膜、液体、块状等磁性材料

2.可测参数

（1）检测各类物质内禀磁特性，如磁化强度Ms(σs)、居里温度Tc、矫顽力Hc、剩磁Mr等；

（2）可间接得出其他的有关技术磁参量，如：Bs、Br、(BH)max和磁导率(包括初始磁导率)等；

（3）可根据回线的特点而判断被测样品的磁属性；

（4）能绘制磁滞回线、磁导率曲线、起始磁化曲线、退磁曲线、热磁曲线等。