武汉嘉仪通 TEA系列热膨胀系数分析仪采用创新的光干涉原理专利技术，可无损检测块体和薄膜样品透明材料的热膨胀系数，广泛应用于辅助各种新材料，尤其是薄膜材料的研究与开发以及质量检验。
TEA采用创新的光干涉原理专利技术，可无损检测块体和薄膜样品透明材料的热膨胀系数，广泛应用于辅助各种新材料，尤其是薄膜材料的研究与开发以及质量检验。
热膨胀系数分析仪独特技术
自主知识产权产品，拥有多项技术专利。
基于光干涉原理的创新技术，通过照射到样品上下表面产生的两束反射光发生干涉，得到光功率随温度的变化曲线，通过计算得到材料的热膨胀系数。
采用PID调节与模糊控制相结合形式控制的红外加热方式，大温区连续、高速温度跟随、既定程序升温及保持控制。
非接触式无损检测，测试精度高。
具备外接抽真空设备、循环水冷设备及载气或制冷能力。
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