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SE-VM光谱椭偏仪

型号：SE-VM 品牌：武汉颐光

简要描述：

SE-VM 是一款高精度快速测量光谱椭偏仪。可通过椭偏参数、透射/反射率等参数的测量，快速实现光学参数薄膜和纳米结构的表征分析，适用于薄膜材料的快速测量表征。

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概述

SE-VM 是一款高精度快速测量光谱椭偏仪。可通过椭偏参数、透射/反射率等参数的测量，快速实现光学参数薄膜和纳米结构的表征分析，适用于薄膜材料的快速测量表征。支持多角度，微光斑，可视化调平系统等高兼容性灵活配置，多功能模块定制化设计。

产品特点

采用高性能进口复合光源，光谱覆盖可见到近红外范围 (380-1000nm)；

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高精度旋转补偿器调制、PCRSA配置，实现Psi/Delta光谱数据高速采集；

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支持系列配置灵活，可根据不同应用场景支持多功能模块化定制；
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数百种材料数据库、多种算法模型库，涵盖了目前绝大部分的光电材料；

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产品应用

广泛应用于镀膜工艺控制、tooling校正等测量应用,实现光学薄膜、纳米结构的光学常数和几何特征尺寸快速的表征分析。

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建议配件


温控台	Mapping扩展模块	真空泵	透射吸附组件