武汉嘉仪通 MRS-3/MRS-3RT薄膜热电参数测试系统专门针对薄膜材料的Seebeck系数和电阻率测量，测温范围达到81K~700K，采用动态法测量Seebeck系数,避免了静态测量在温差测量上的系统误差,测量更准确。
薄膜热电参数测试系统产品特点
专门针对薄膜材料的Seebeck系数和电阻率测量。
测试环境温度范围达到81K~700K。
采用动态法测量Seebeck系数，避免了静态测量在温差测量上的系统误差，测量更准确。
采用四线法测量电阻率。
热电偶探针经过严格的筛选配对保证测试结果的准确和稳定。
软件操作简单，智能化可实现全自动模式。
薄膜热电参数测试系统测试实例
标准镍带测试结果
东华大学MoS2测试结果
MRS-3对Bi2Te3薄膜测试结果（中国科学院电工研究所提供样品）
MRS-3对Bi2Te3薄膜测试结果（中国科学院电工研究所提供样品）
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