热电参数测试系统产品特点
拥有独立知识产权，获得多项技术专利。
采用动态法测量Seebeck系数，避免了传统静态测量法在温差测量方面的系统误差，测量更准确。
热电偶不直接和样品接触，避免出现微型热电偶断裂失效的问题 。
炉壳过温报警，自动断电保护。
友好的软件界面，操作简单，实时显示采集数据、测试状态和结果，采用智能化数据存储及处理算法。
热电参数测试系统测试实例
1、康铜样品三次测试数据与美国AIP标准数值对比
2、Namicro-3L、ZEM-3对N型Bi2Te3测试结果对比
3、Namicro-3L、ZEM-3对P型Bi2Te3测试结果对比
4、Namicro-3L、ZEM-3对MgSi测试结果对比（太原理工提供样品）
热电参数测试系统技术参数
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型号
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Namicro-3LT
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温度范围
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RT~800°C
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温控方式
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PID程序控制
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最大升温速率
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50°C/min
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真空度
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≤50Pa
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测试气氛
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真空
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测量范围
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泽贝克系数：S ≥ 8µV/K； 电阻率：0.1µΩ•m ~ 106KµΩ•m
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分辨率
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泽贝克系数：0.05µV/K； 电阻率：0.05µΩ•m
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相对误差
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泽贝克系数 ≤±7%，电阻率 ≤±5%
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测量模式
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自动
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样品尺寸
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块体，长x宽：(2~5) x (2~5)，单位mm；高度：10 ~ 18mm
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主机尺寸
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1000 x 400 x 500，单位mm
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重量
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75kg
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热电参数测试系统样品要求
块体：具备平整上下端即可
若样品表面有腐蚀或氧化等杂质层覆盖，需对样品表面抛光，使材料裸露出来，保证接触良好
热电参数测试系统技术原理
动态测量法
测试过程中给试样两段施加一微小的连续变化的温差，测量样品两端热电势变化，温差?T和热电势之间呈线性关系，其斜率即为seebeck系数。
四探针法
即四点接触法，电流的路径如右图所示，但测量电压使用的是另外两个接触点。相比二探针法，四探针法测量电阻率有个非常大的优点——不需要校准；有时用其它方法测量电阻率时还用四探针法校准，因而测量精度更高。
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